X-光判片燈

實驗項目：X光射線檢測

實驗目的：熟練X光射線檢測設備之檢測程序

實驗項目：銲接件之銲道檢測

原理與方法：

原理：利用高穿透能力的X射線，直接穿透檢測件，

             檢測出內部之缺陷。

方法：將檢測件以X光機照射，獲得X光片，稱為判

            片，再將判片放置於判片燈上，觀察檢測件

            之缺陷形狀與位置。

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